希捷：首次正式确认垂直磁记录的面记录密度可达100G

    前段时间我们曾报道了《希捷：HAMR技术将把硬盘面密度提高100倍》

    　　日前，希捷科技（Seagate Technology LLC）证实使用垂直磁记录方式可将硬盘面记录密度提高到100Gbit/平方英寸。尽管希捷没有公布位错码率等有关信息，但表示此次验证是“采用业界通用的方法进行的”。此前还从未有过利用垂直磁记录方式达到100Gbit/平方英寸的试验结果。

    　　试验证实，线记录密度为700kBPI，磁道密度为143kTPI，数据传输速度为330Mbit/秒。验证实验中使用的装置具有多个磁头和记录介质，结构接近于硬盘。信号处理也是利用硬件进行的。记录和播放利用同一个磁头进行，使用双层垂直记录介质。此外，希捷还使用垂直记录方式在面记录密度为60Gbit/平方英寸的条件下成功地进行了125MB/秒的数据传输实验。该公司表示将于2004年投产的硬盘中使用这些技术。

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