串行ATA：PLUGFEST测试证明了串行ATA的互操作性

    经过在各种条件下对串行ATA设备进行测试，硬件开发商宣称成功率达到95％

    希捷、英特尔、Silicon Image公司首次进行的串行ATA“PLUGFEST”测试取得巨大成功。参加 2002年秋季在圣何塞举行的英特尔开发商论坛的厂商提供的测试结果表明，在整个行业范围内串行ATA部件之间的互操作性达到了95％以上。串行ATA PLUGFEST测试活动吸引了大约50家公司在上个月汇聚美国科罗拉多州，其中包括电缆、连接器、硅、内插件、主板、硬盘和机箱等厂商。在装备有串行ATA的许多设备上进行了900余次测试，成功率超过95％，从而证明了采用新型串行ATA接口的设备之间具有很强的互操作性。

    希捷公司I/O规划部经理Marc Noblitt说：“这次PLUGFEST测试活动具有凝聚力，使致力于开发串行ATA产品的公司汇聚在一起，从而能方便快捷地对新产品的互操作性进行评测。在我们开始向市场投放串行ATA1.0产品之时，我们将努力确保在用户环境中集成串行ATA产品有一个良好的开端，这一点至关重要。”

    除了引导、操作系统装载之类的基本兼容性测试以外，还进行了一些专项测试，以便对串行ATA设备作更进一步的评估。这些测试包括：

    •以测量数据发送与接收的可靠性为目的的数据传输测试，
•主机及设备的传输网眼图测试
•OOB信号交换协议测试
•共模瞬变测试

PLUGFEST测试向所有致力于开发串行ATA产品的公司开放，包括系统及主板、硬盘、电缆、硅、存储设备、操作系统、BIOS、测试工具以及其它产品的供应商。

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