石亮博士：优化闪存可靠性从这两方面下手
朱 朋博 发布于 2018-08-14
2018全球存储半导体大会上，来自来自重庆大学Smart Storage Lab的石亮博士发表了题为《新一代3D闪存存储可靠性技术》的主题演讲，介绍了从LDPC纠删码和制程差异两方面优化闪存可靠性的方法，论据内容充足，有许多实验作为支撑，并且给出了解决问题的思路和方法，为闪存专业...
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朱 朋博 发布于 2018-08-14
2018全球存储半导体大会上，来自来自重庆大学Smart Storage Lab的石亮博士发表了题为《新一代3D闪存存储可靠性技术》的主题演讲，介绍了从LDPC纠删码和制程差异两方面优化闪存可靠性的方法，论据内容充足，有许多实验作为支撑，并且给出了解决问题的思路和方法，为闪存专业...